keleas / wafer_maps Goto Github PK

Здравствуйте, уважаемые друзья. Мне очень интересно ваше исследование, я также делаю тест на вафли, скажите, пожалуйста, как получить смешанные дефекты? как и у вас в папке img под Scratch Circle.jpg , scratch демон 1. Jpg, scratch u одежда cloud Jpg, скажите, пожалуйста, как вы их создали? В данный момент я нашел только один недостаток в вашей программе.

Hello, dear friend. I am very interested in your research, I also do wafer defect detection, how to generate mixed defects? It's like in your img folder scratch_ circle.jpg ，scratch_ circle_ 1.jpg,scratch_ cloud_ Jpg, how do you generate these? So far, I've only found how to generate a single defect in your program.

I could not find the weights in the weights directory, can you please share them through google drive or whatever way you find suitable

На будущее посмотреть по ключевым словам:

1. SQL
2. Oracle Database
3. Apache Kafka - базы данных

Попробовать модели:

1. AlexNet
2. ResNet
3. VGG

По каждой сетке перепробовать различные параметры ядер и количества слоев.
Попробовать finetune на dense слоях.

• 1. Резюме статей от Кирилла по решению поиска паттернов на wafer maps

• 2. Решение задачи классификации на примере WM-811K

• 3. Сравнить решение CNN и Кирилла на примере WM-811K

• 4. Синтетическая выборка паттернов с добавлением размеченных карт